利用低场核磁共振技术研究调味山药片真空微波干燥过程中水分的变化规律

为研究调味山药片真空微波干燥过程中内部水分含量、分布及状态变化情况，采用低场核磁共振技术，测定不同微波功率下微波真空干燥过程中的横向弛豫时间T2反演谱，进而分析调味山药片内部的水分状态及其变化规律。结果表明：微波功率越高，自由水和不易流动水被除去所需的时间越短，其中对自由水作用尤为明显，但过高的微波功率会导致物料出现焦化现象；调味山药片干基含水率与核磁共振总峰面积之间呈线性关系，可以预测调味山药片真空微波干燥达到干燥终点所需的时间。核磁共振图像显示调味山药片干燥过程中水分含量的增加和减少均是由外而内，干燥结束时，剩余水主要存在于调味山药内层。水分含量的变化对调味山药片干燥后的品质有显著影响，低场核磁共振及成像技术为调味山药片干燥过程中水分的变化提供了直观的参考依据，本研究可以为调味山药片的真空微波脆化工艺设计、优化干燥参数、控制干燥过程及提高产品质量提供参考