聚酰亚胺/二氧化钛纳米复合薄膜制备与耐电晕性

摘要： 采用原位聚合法制备不同TiO2组分聚酰亚胺(PI)/纳米TiO2复合薄膜, 薄膜厚度50 μm。 测试结果表明, TiO2呈球状颗粒, 直径约为100 nm, 聚酰亚胺呈片状, 尺寸约为2 μm ×1 μm。随着TiO2含量的增加, 复合薄膜介电常数和介电损耗增大, 击穿场强先增加后降低; 在40 kV/mm电场强度下, 复合薄膜耐电晕老化寿命增加, 纯PI薄膜寿命为3 h, 20wt%TiO2含量薄膜寿命达到25 h; TiO2颗粒耐电晕能力强, 与聚合物形成界面相, 改变材料陷阱能级, 有利于空间电荷的扩散和热量的传输, 在薄膜表面形成放电阻挡层, 降低局部放电对薄膜内部的侵蚀, 显著提高薄膜耐电晕老化寿命。