单分散二氧化硅形成过程中TEM观察和形成机理

摘要： 利用透射电子显微镜（TEM）首次观察到了生长过程中的单分散二氧化硅颗粒内部结构.在生长初期，单分散二氧化硅由结构疏松的絮状SiO2组成；而在生长过程的中后期由结构密实的SiO2组成．基于TEM观察结果和生长过程中其它现象的研究，提出了单分散二氧化硅形成机理，利用该基理对一些实验现象进行了分析和讨论．