生长于Pt/Ti/SiO2/Si衬底的ZnxNi(1-x)Mn2O4薄膜的结构与光学性质

采用化学溶液法在Pt/Ti/SiO2/Si衬底上生长了ZnxNi1-xMn2O4(ZNMO, x=0, 0.05, 0.1, 0.15, 0.2, 0.25)尖晶石氧化物薄膜。X射线衍射(XRD)与场发射扫描电子显微镜(FESEM) 分析结果表明, Zn的掺杂浓度对ZNMO薄膜的结晶性和微结构有明显影响。用椭圆偏振光谱仪测量分析了ZNMO薄膜在300-1 100 nm波段的光学常数, 并讨论了Zn掺杂对折射率n和消光系数k的影响。在薄膜的拉曼光谱中观测到两个峰A1g与F2g, A1g模式的相对峰位随着Zn的掺杂浓度x的增大而减小。由于晶格应变与晶格失配, 拉曼峰峰位随Zn掺杂浓度的变化而轻微移动