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ISSN: 2333-9721
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内皮型一氧化氮合成酶基因多态性与早产儿脑病的相关性研究

DOI: 10.11852/zgetbjzz2018-0104

Keywords: 基因多态性,早产儿脑病,内皮型一氧化氮合成酶,核磁共振成像

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摘要 目的 研究AGT M235T、ACE I/D、eNOS G894T和eNOS T-786C单核苷酸多态性和早产儿脑病发生的关系,为全面评估患儿病情提供参考。方法 选取2014年6月-2017年9月于新乡市中心医院新生儿重症监护室就诊的胎龄<34周的早产儿为研究对象,进行头颅超声和核磁共振影像学检查和基因多态性测定,回顾性分析其临床资料,研究AGT M235T、ACE I/D、eNOS G894T和eNOS T-786C基因多态性和早产儿脑病发生的关系。结果 eNOS T-786C的C等位基因的表达是中重度早产儿脑病的独立危险因素(OR=3.206,95%CI:1.850~7.652)。结论 早产儿脑病存在基因易感性,检测eNOS基因多态性有助于评估早产儿预后

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