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南京师范大学学报(自然科学版) 2018
X-射线粉末衍射K值法对不同厂家滑石粉的纯度考察DOI: 10.3969/j.issn.1001-4616.2018.04.016 Keywords: 滑石粉, X-射线粉末衍射法, 定性分析, 定量分析, K值法 Abstract: 本文从定性和定量两个方面对4个厂家滑石粉的纯度进行了考察. 首先通过X-射线粉末衍射法(PXRD)、扫描电子显微镜(SEM)和傅立叶变换红外光谱(FT-IR)对4个厂家的滑石粉进行了定性鉴定,然后利用X-射线粉末衍射K值法计算出待测样品中滑石粉[Mg3(Si4O10)(OH)2]的百分含量,进而推算出Mg元素的百分含量. 分析结果表明,4个厂家滑石粉含量均大于90%,Mg的百分含量在17.0%~19.5%,均符合中国药典的规定,其中 D 厂家滑石粉的纯度最高,质量更好,其余依次为C、A、B. 本实验结果为生产企业根据实际需要选用滑石粉提供了参考数据
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