缺铁胁迫对梨叶片中GA信号转导相关基因的影响

以不同程度缺铁的‘砀山酥梨’组培苗为实验材料,应用ELISA法测定叶片中内源GA含量,并依据NCBI上GA氧化酶GA2ox同源基因的保守序列,采用RACE技术克隆其基因全长,从梨基因组数据库中比对获得GA受体GID1的4个等位基因和DELLA蛋白的4个等位基因,通过实时RT-PCR分析GA2ox基因和GID1的4个等位基因和DELLA蛋白的4个等位基因的相对表达量,以探讨缺铁对梨叶片GA含量及其信号转导相关基因表达的影响。结果表明:(1)梨叶片中GA含量随着其缺铁程度的加重而增加。(2)克隆出梨叶片中GA2ox基因,其cDNA全长为1 014 bp(GenBank登录号为KJ008976)。(3)GA2ox基因的表达量并未随梨缺铁程度增加而上升;GA受体GID1的4个等位基因相对表达量均随梨缺铁程度的加重而增加,其相对表达量与GA含量呈正相关关系;在DELLA蛋白的4个等位基因中,仅DELLA1相对表达量随着梨缺铁程度的加重而逐渐增加,说明DELLA1对缺铁胁迫最敏感。推测梨缺铁诱导了GA合成,但并没有促进活性GA向活性GA转化。