烧结时间对钛酸锶钡基陶瓷介电性能及微观形貌的影响

？采用传统固相法制备(ba0732sr026y0008)tio3004基电容器介质陶瓷,研究了烧结过程中不同保温时间对体系微观形貌及介电性能的影响,为确定其最佳烧结工艺参数提供依据．结果表明:随着保温时间延长,该介电陶瓷体系晶粒发育逐渐完全,气孔率降低;各测试频率下陶瓷室温相对介电常数均得到提高,而室温介电损耗均显著降低．由于粒界缓冲作用减弱,(ba0732sr026y0008)tio3004基介电陶瓷的温度稳定性在低温区间内(-20～90℃)随烧结时间增长有所降低．此外,该体系介电陶瓷的相对介电常数在高于260℃温区内出现明显频率依赖关系．