fpga芯片的链结构lut自测试方法研究

基于内建自测试(bist)思想的fpga测试方法利用被测芯片中的资源来构建测试所需的tpg或ora,以减少测试对输入输出引脚和外部ate的需求。传统的fpga芯片bist方法仅考虑自测试结构内被配置为cut的资源,从而需要进行多次组测试来完成整个芯片的测试。在现有lut自测试链结构的基础上,通过合理选择tpg的电路结构及测试配置,能够在相同测试开销下增加tpg部分的故障覆盖率,提高测试效率。