存储系统负载自相似性研究综述

i/o突发是造成i/o瓶颈的一个主要原因，研究i/o负载中普遍存在的突发性并对负载进行精确合成，对存储系统设计及其性能评价具有重要意义。对实际i/o负载的研究表明，传统的泊松假定难以准确地描述长时间范围内的i/o突发行为。研究发现，i/o突发在不同时间尺度下具有相似性，即i/o负载具有自相似性，因此，自相似模型被用来刻画i/o负载中的长相关性。针对i/o负载自相似参数估计，总结了各种常用的时域和频域估值方法。着重对已有的i/o负载合成模型进行了剖析，讨论了各种自相似模型、多分形模型以及alpha稳定模型的特点。探讨了有待解决的开放性问题，并对i/o负载自相似性研究的发展趋势进行了展望。上述工作将对存储负载的自相似性研究提供有益参考。