基于改进canny算子的led晶片边缘检测

？为了提高全自动固晶机视觉系统中发光二极管(led)晶片边缘特征的提取精度,提出了一种基于改进非极大值抑制(nms)过程和双阈值求取方法的canny边缘检测算子。传统的非极大值抑制过程,直接将中心像素点与梯度方向周围邻近的2个像素点进行比较,易导致边缘信息不准确。针对该问题,结合中心像素点本身及其梯度方向周围的3个像素点,沿着梯度方向进行双线性插值,从而实现改进的非极大值抑制过程;另外,通过对led晶片图像灰度直方图的分析,根据其特有的三峰特性,改进了传统的最大类间方差法,采用otsu双阈值法及新的评价函数求取高低阈值,从而避免传统canny算法中阈值的人工调整。实验结果表明,这种方法适合led晶片的边缘提取,并且能够获得良好的晶片边缘及两极轮廓。