基于模拟退火离散粒子群算法的测试点优化

？针对复杂系统的测试点优化问题,提出一种基于模拟退火离散粒子群（sa-bpso）算法的测试点优化算法。该算法利用模拟退火算法的概率突跳能力,克服了基本粒子群算法易陷入局部最优解的缺陷。阐述了该算法在系统测试点优化应用中的流程及关键步骤,并且理论分析了该算法的复杂度。仿真结果表明,该算法在计算时间和测试费用方面都优于遗传算法,能够应用于复杂系统的测试点优化。