测定纳米晶粒尺寸分布的分峰法

？本文提出一种测定纳米晶粒尺寸分布的新方法－分峰法，其可靠性用规定超微粉颗粒大小分布的ｘ－射线小角散射法（ｓａｘｓ）进行了验证，并用它成功地测定了ｓｎｏ２薄膜和层状石墨的晶粒分布。