复合材料界面的研究――(二)棱镜―薄膜偶合与椭圆偏振理论的比较及用于高分子材料研究的可能性

？近十几年来发展起来的棱镜-薄膜偶合测定技术已从用于无机薄膜测定发展到有机膜及聚合物膜,这是一种有希望可用于高分子材料薄膜及复合材料界面的研究方法。为了开展这方面的研究,本文从讨论薄膜体系的三种模式入手,详细分析了棱镜-薄膜偶合理论及公式的来源和物理意义。讨论了公式在实验中的具体运用,与高分子结构有关概念的结合,goos-hanchen位移及与椭圆偏振的比较。本文工作为棱镜-薄膜偶合的具体应用提供了基础。