利用alk_α谱线分析al的配位状态

？用双晶高分辨力荧光x射线谱仪测定了若干种化合物的alk_α谱线,在分析这些化合物中al的配位状态的同时,对分析方法作了较系统的研究,研究结果表明:(1)利用alk_α分析al的配位状态是一种简单而有效的方法,但仅根据位移往往不能得到正确的结果,必须同时注意谱形的变化。(2)在涉及混合配位的定量分析时,谱线分离法是很有效的方法,但对谱形变化所造成的误差必须进行修正。(3)与历来的说法不同,ca_6中的al不是四、六混合配位,而是以五配位为主的五、六混合配位。(4)alk_α谱线移主要取决于al离子的有效电荷;配位数相同的情况下,第二邻接离子对位移的影响远的位大于al-o键长的影响。