单电流注入的三维mreit快速重建及实验

磁共振电阻抗成像(mreit)是将磁共振成像(mri)与传统电阻抗成像(eit)技术相结合的一种电导率成像技术，通过提供成像体精确的几何信息与成像体内部的磁通密度值，改善了电阻抗成像的病态性，使得电导率图像的分辨率显著提高．针对mreit系统的快速成像问题，在分析磁共振电阻抗成像的数学模型和正逆问题的基础上，提出利用单次电流的磁通密度分量即可进行电导率图像重建的方法，缩短了测量时间，并降低了电极间的电磁干扰；将灵敏度矩阵法扩展到三维mreit，采用半解析法计算灵敏度矩阵，使得图像重建速度得到提高；并通过仿真与仿体实验验证了该方法的有效性．结果表明获得的电导率分布图像具有较高的分辨率和图像质量，测量与重建时间的缩短为mreit的临床应用奠定了基础．