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天津大学学报(自然科学与工程技术版) 2005
射频磁控溅射高饱和磁化强度fe-n薄膜, PP. 573-576 Keywords: fe-n薄膜,饱和磁化强度,射频磁控溅射 Abstract: ??????用射频磁控溅射法分别在具有20nmfe衬底的si(100)和nacl单晶基片上成功地制备出具有高饱和磁化强度的fe-n薄膜.用x射线衍射仪、透射电子显微镜和振动样品磁强计研究了氮气分压和基片温度对fe-n薄膜相结构和磁性的影响.结果表明,当氮气分压为2.66x10-2pa,基片温度为100~150℃时,最有利于a"-fe16n2相的形成.在此条件下制备的fe-n薄膜的饱和磁化强度高达2.735t,超过纯fe的饱和磁化强度值.
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