运用过采样与成形信号技术提高检测灵敏度

为了提高传感器识别微弱信号的能力，提出了一种应用成形信号与过采样技术提高检测灵敏度的方法．分析了成形信号与过采样技术原理，并以光电传感器为实验对象初步验证了此方法的有效性．实验中，首先在光电传感器前端施加光学成形信号，与微弱光信号相叠加，经过采样后再从采集数据中恢复弱信号．实验证明，该方法可以使光电传感器的分辨能力得到明显提高．这为各种弱信号检测增添了一种可行的手段，更为传感器使用过程中分辨率与灵敏度的提高开辟了一个途径．