二进制差分随机过程键控的结构与性能分析

？提出了一种二进制差分随机过程键控的调制解调结构，推导出了在高斯信道和准静态衰落信道下的误比特率理论计算公式，并对系统进行了误比特率和二阶循环谱检测的仿真。仿真结果表明，提出的差分随机过程键控，在高斯信道下大约在?2db、在准静态瑞利衰落信道下大约在25db的信噪比下具有10?4数量级的误比特率。同时，所提出的差分随机过程键控调制方法，其广义二阶循环谱的不可检测性，使其具有很好的物理层隐蔽性。