ce1-xgdxo2-δ固溶体中缺陷物种的拉曼光谱研究

采用溶胶-凝胶法制备一系列ce1-xgdxo2-δ固溶体。利用紫外(325nm)和可见(514nm)raman光谱，x射线粉末衍射(xrd)，透射电子显微镜(tem)和紫外可见漫反射光谱(uv-visdrs)，考察了ce1-xgdxo2-δ固溶体的缺陷物种的分布以及gd含量对缺陷浓度的影响。结果表明：ce1-xgdxo2-δ固溶体中存在氧缺位(~560cm-1)和gdo8型缺陷结构(~600cm-1)。根据样品对raman激发光的吸收，紫外raman光谱反映样品的表层信息，可见raman光谱反映样品的整体信息。ce1-xgdxo2-δ固溶体表层氧缺位(να)和gdo8型缺陷物种的浓度(νβ)均高于固溶体体相，这归因于缺陷物种的表面富集。然而，相比于gdo8型缺陷物种，体相中氧缺位浓度增加较表层中的更显著。