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无机化学学报 2006
高比表面cexzr1-xo2复合氧化物的制备及表征, PP. 1623-1627 Keywords: 阴离子表面活性剂,铈锆固溶体,介孔,比表面积 Abstract: 分别采用共沉淀法和阴离子表面活性剂模板法制备了cexzr1-xo2复合氧化物。采用xrd、afm、ftir以及n2吸附-脱附等方法对样品进行了表征。结果表明,共沉淀法合成的样品在500℃煅烧2h后,生成了立方相ce0.75zr0.25o2和四方相ce0.5zr0.5o2固溶体,比表面积为62.1m2·g-1,孔体积为0.097cm3·g-1;以阴离子表面活性剂十二烷基苯磺酸钠(sdbs)为模板剂,乙二胺为助模板剂合成的样品在500℃煅烧2h后,生成了纯四方相ce0.5zr0.5o2固溶体,比表面积为180m2·g-1,孔体积为0.182cm3·g-1。结果表明,以阴离子表面活性剂sdbs为模板剂,可以合成高比表面积且具有介孔结构的ce0.5zr0.5o2复合氧化物;加入乙二胺作为助模板剂可明显的提高比表面积和孔体积。
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