si在燕麦籽粒中的富集及其与其它8种元素的关系

通过环境扫描电镜结合x射线电子探针显微分析技术，对22个基因型的燕麦籽粒皮层、糊粉层、近糊粉层和颖果中部的si含量进行测定。结果表明，si元素在燕麦籽粒不同部位的含量有明显差异，皮层和糊粉层si含量较高，近糊粉层和颖果中部含量较低，在颖果中si主要富集在糊粉层中；而且不同基因型燕麦籽粒同一部位或不同部位si的积累量也有较大差异，这可能是由遗传差异引起的。糊粉层中的si含量影响着近糊粉层和颖果中部的si含量。另外，籽粒不同部位si含量与p、ca、mg、s、al、pb含量之间存在显著或极显著的非线性关系，颖果中部的si含量与k、cd含量之间不存在显著的非线性关系。说明si在燕麦籽粒中富集的同时也影响着p、ca、mg、s、al、pb等元素的富集。