厚度可控薄板形silicalite-1的制备

通过精细调整控制合成条件,在sio2-tpaoh-h2o-nh4f(tpaoh:四丙基氢氧化铵)体系中制备出了厚度可控的薄板型silicalite-1分子筛材料,并利用扫描电镜(sem)、高分辨透射电镜(hrtem)、粉末x射线衍射(xrd)及差热-热重分析(tg-dta)对样品的结构信息、样品形貌及物理化学性质进行了表征.研究表明,nh4f浓度和反应体系ph值对silicalite-1分子筛的形貌起着重要的导向作用.随着nh4f/sio2的摩尔比(n(nh4f)/n(sio2))由0增加到0.18,分子筛形貌由交互生长的椭圆形变为板形,其厚度也逐渐变薄;当n(nh4f)/n(sio2)=0.4时,厚度达到最薄.继续增加nh4f/sio2的摩尔比,其厚度增加,这是由于f-提高了样品结晶度.hrtem研究表明b轴垂直于平面,由于在mfi结构的材料中,b轴方向是其直孔道方向,这种材料有利于客体分子的进出.还研究了样品的热稳性,所有样品在1100℃焙烧2h后,其形貌和结构不发生变化.