自组装成膜技术制备tio2薄膜的xps研究

采用自组装成膜技术制备tio2薄膜,应用x射线光电子能谱研究自组装膜及其氧化膜和淀积的tio2薄膜.结果表明，硅烷偶联剂成功地组装在玻璃基片上，足够长时间的氧化对使端基（-sh）完全氧化为磺酸基.淀积在基片上的tio2膜牢固性好，平均膜厚在10nm．淀积膜中的钛可能有几种不同的氧化态，不同的酸度影响tio2的淀积效果.