原子分辨显微分析技术研究进展

非接触原子力显微技术(nc-afm)近年来发展迅速.nc-afm对单个分子的成像和谱学实现了原子分辨和单个化学键分辨.nc-afm自身功能的拓展及其与不同探针技术的联用将为材料、物理、化学和生命科学有关的研究提供崭新的思路.本文首先介绍nc-afm和qplus传感器的基本原理,然后讨论原子尺度的相互作用力和短程力的精确测量,总结近年来nc-afm在原子尺度的化学结构成像、化学识别、电子结构性质分析以及原子操纵技术中的研究进展,并讨论了开尔文探针力显微技术(kpfm)在局域接触势差(lcpd)测量方面的应用.最后展望了nc-afm面临的挑战和发展机遇.