层层组装法制备核壳sio2/pt粒子及其co电氧化和原位电化学ftir光谱

采用层层组装法合成了核壳sio2/pt粒子,用电化学循环伏安法(cv)和原位电化学傅里叶变换红外(ftir)光谱研究了sio2/pt粒子对co分子的氧化和吸附行为.透射电子显微研究表明:包覆sio2的pt壳是由团聚的pt纳米微粒构成,其平均厚度大约为26nm.co在sio2/pt粒子修饰的玻碳(gc)电极上的主氧化峰为0.49v(vssce),表现出比本体pt金属好的催化性能.电化学ftir光谱研究发现:线性co在sio2/pt粒子上的ir吸收带的方向发生倒反,而且在不同的研究电位下,每个吸收带劈裂为两个间隔约为14cm-1的吸收带,这种劈裂现象在饱和吸附co的pt金属表面上是很难观察到的.这些异常的红外吸收现象可能是由sio2/pt粒子的结构效应导致的.