csrm内靶实验中的轻离子束流寿命模拟研究

？建立了内靶对兰州冷却储存环主环束流影响的单粒子跟踪模拟程序，对pellet小丸靶和碳靶对束流带来的负面影响进行了模拟研究，主要讨论csrm内靶实验中的束流存活率和束流寿命状态。结果显示利用厚度为1×1016atoms×cm-2小丸内靶时，2.6gev质子束流寿命在100s量级，而对于目前技术水平下的碳膜靶(厚度为5×1017atoms×cm-2)，质子束流寿命为s量级；束流寿命和束流能量基本成正比关系，束流寿命和内靶厚度近似成反比关系。