背光阴影成像技术表征icf靶丸内表面粗糙度

？发展了背光阴影成像技术，用于诊断透明icf冷冻靶冰层内表面质量。分析了单层球壳阴影图像中形成亮环的物理机制。用光学追迹软件tracepro模拟产生了透明单层球壳的阴影图像，用于研究亮环位置与球壳厚度及折射率的关系。建立了背光阴影成像实验装置，获得了透明单层球壳具有明显亮环的实验阴影图像。编制了阴影图像处理软件，获得了靶丸内表面1维功率谱曲线，并据此计算出靶丸内表面均方根粗糙度。理论分析、软件模拟及实验研究均表明，背光阴影成像技术是透明冷冻靶冰层内表面质量的有效诊断方法。