用于平面靶x射线诊断的1维kba显微镜

？对用于神光ⅱ装置4.75kev能点平面靶成像诊断的1维kba显微镜进行了实验研究。基于空间分辨力和工作环境要求，设计了1维kba显微镜的光学结构，并与传统kb显微镜的成像性能进行了对比分析。设计和制备了可同时工作于8kev和4.75kev能点的双能点多层膜kba物镜，解决了系统装调问题。利用神光ⅱ装置第九路激光打击ti靶产生的x射线作为背光源照射1500目金网，进行了4.75kev网格成像实验，结果表明：在整个背光源照明区域内，系统的实际分辨力约为4μm，系统的有效视场受背光源大小的限制。