x射线能谱测量的蒙特卡罗成像模拟

？针对高能强流电子束轰击高z靶产生的x射线的能谱测量问题，采用蒙特卡罗方法进行成像模拟研究。高能x射线能谱通常由对x射线经过衰减体的直穿透射率曲线进行解谱获得。设计了带多准直孔的截锥体模型，在单次模拟成像中获得完整的衰减透射率曲线，有效避免了散射光子对透射率曲线以及x射线能谱重建的影响。成像面采用非均匀划分网格计数，将大部分探测计数点集中于各准直孔出口处，保证关注区域模拟成像的精细度，同时减少总体计算时间。