基于mars系统的x射线能谱k-edge特性ct成像技术

？针对传统的x射线ct系统因采用积分探测器难于鉴别材质的关键技术问题，基于mars系统的x射线能谱ct，开展了x射线能谱k-edge特性的ct成像技术研究。通过对单一材质和混（复）合材质组成的物理模型的多个x射线能量段进行ct断层扫描，获得了材质的k-edge特性曲线，以此重建出了材质的ct图像。借助材质k-edge特性的ct断层图像，可以进行材质的鉴别分析或进行更多的材质认知信息的分析研究。与传统的x射线ct技术相比较，它可以提供更为丰富的x射线衰减信息。