双极晶体管负载瞬态辐照毁伤效应

？利用有源传输线模型与漂移-扩散模型的耦合计算模型，对在瞬态x射线辐照下电缆末端典型n+-p-n-n+结构的双极晶体管负载的毁伤效应与规律进行研究，通过分析双极晶体管内部晶格温度分布，判定是否处于毁伤状态，总结双极晶体管烧毁时间和烧毁所需能量与脉冲x射线脉冲宽度和注量之间的关系。结果表明：随着脉冲x射线脉宽增加，双极晶体管烧毁能量变化较小，烧毁时间逐渐增加；随着注量增加，烧毁时间逐渐降低，在5.86j/cm2以下时，烧毁所需能量基本相同，之后呈指数逐渐增加，并通过曲线拟合得到损伤规律的经验公式。