双通道凸面反射式弯晶谱仪的研制及应用

？为满足惯性约束聚变研究需要工作距离长、测谱范围宽的x射线诊断设备的独特要求，基于凸面反射几何原理研制了一台双通道弯晶谱仪。谱仪利用si（111）及qz（10－10）两种弯晶衍射x射线，并通过x射线ccd成功获得谱线图像，测谱范围从0.30nm到0.65nm。在激光装置原型诊断实验上得到应用。数据分析的结果证明实测谱线图像与理论模拟基本吻合。