金阴极微通道板探测器x射线段的能谱响应

？利用表面镀金阴极膜的微通道板(mcp)构成一种金阴极mcp光电探测器，根据mcp的电阻电容特性提出了一种特殊的能谱响应测量方法。在北京同步辐射3b3中能束线上对该探测器在2.1～6.0kev能段的谱响应进行了实验标定。以美国nist绝对定标的美国ird公司生产的axuv-100硅光二极管为次级标准探测器，标定金膜厚度分别为25和100nm的金阴极mcp探测器的能谱响应。经分析发现，阴极材料和mcp材料的元素吸收边是造成量子效率曲线出现突变点的原因。对比两种mcp的能谱响应标定结果，金膜厚度为100nm探测器的能谱响应高于金膜厚度为25nm的探测器。