利用时间分辨ar的k壳层发射光谱诊断内爆靶丸芯区电子温度的时间演化过程

？在神光ⅱ装置上的内爆实验中，通过在充氘气（d2）的靶丸中掺入氩（ar）元素，利用晶体谱仪配条纹相机测量得到了内爆停滞阶段ar的k壳层发射光谱随时间的变化。在实验中，观测到ar的heα，heβ以及lyα线发射，持续时间大约200ps。用heα线与lyα线强度比值来推断靶丸芯区电子温度。利用碰撞辐射模型，从理论上计算出heα线与lyα线强度比值随电子温度、数密度的变化。通过将实验上观测到的heα线与lyα线强度比与理论计算值相比较，获得了芯区电子温度随时间的演化。并计算比较了不同电子密度条件下推断出来的电子温度的差异，证明诊断电子温度的方法对电子数密度的变化不敏感。利用逃逸因子修正了自吸收效应，从计算的结果可以看出在目前的实验中heα线和lyα线是光学薄的。