基于wigner分布函数的光学元件评价方法

？为了有效地表征和评价光学元件局部小尺度波前畸变，提出了能同时反映空间频率和空间位置的wigner分布函数评价方法。通过理论分析wigner分布函数与功率谱密度之间的关系，得到了局部波前畸变的评价方法和指标。模拟计算和实验结果验证了该方法的有效性，并表明：该方法不但能判断光学元件的中频误差是否满足惯性约束聚变系统要求，而且还能确定不满足要求的特定区域，从而有效地指导光学元件的返修。