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ISSN: 2333-9721
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磁控溅射制备ni/ti多层膜表面粗糙度

, PP. 0-0

Keywords: 中子超反射镜,粗糙度,原子力显微镜,x射线反射

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Abstract:

?采用磁控溅射方法制备了周期数分别为10,30,50和75的ni/ti多层膜,利用x射线掠入射反射测量了多层膜表面和界面的状态,并用原子力显微镜测量了多层膜的表面粗糙度,研究了不同周期数的ni/ti多层膜表面粗糙度的变化规律。结果表明:ni/ti多层膜表面粗糙度随着膜层数增加而增加,当ni/ti多层膜的周期数从10变化到75时,其表面粗糙度由0.80nm增大到1.69nm。实验数据拟合表明:ni/ti多层膜表面粗糙度与周期数成3次方关系;但在周期数较小时,粗糙度与周期数成线性关系。

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