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ISSN: 2333-9721
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al-x谱线电子碰撞展宽的理论研究

, PP. 0-0

Keywords: r-矩阵方法,半经验方法,al-x离子,电子碰撞展宽

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Abstract:

?使用r-矩阵方法和半经验方法,计算了高价离子al-x2s21s-2s2p1p0共振谱线在电子密度为1017cm-3时的线宽和线移随温度的变化关系,两种计算得到的线宽结果符合得比较好。使用半经验方法可以获得大量谱线的电子碰撞展宽,以满足需要大量数据的等离子体不透明度的计算的需要。使用半经验方法同时得到了其它一些谱线的电子碰撞宽度。

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