系统电磁脉冲边界层准稳态特性研究

？对黑体谱脉冲x射线入射到系统材料上发射的光电子的行为及其准稳态成立的条件进行讨论，研究了系统电磁脉冲(sgemp)边界层中光电子参数和电场的准稳态特性，给出的公式，可以方便地获得sgemp边界层的主要参数，如电子密度、电子分布、表面电场及其分布等。最后给出了一个计算实例。