折射率调制脉冲射线探测技术原理验证

？为验证折射率调制的脉冲射线束探测技术，建立了原理验证系统。该系统基于平行平板干涉原理，测量传感介质的折射率在射线激发下的瞬时变化。传感介质为gaas，探针光为1310nm单模激光，外界激发射线源平均能量为300kev，脉宽为20ns。使用带宽775khz的近红外ingaas光电探测器，观测到了gaas晶体在脉冲射线激发下的折射率变化。初步理论分析表明，射线脉冲在gaas中产生的非平衡载流子浓度为1014cm-3量级，折射率变化为10-6量级。折射率变化的实验结果与理论计算在量级上是符合的。实验结果表明，基于折射率调制的脉冲射线束探测技术基本可行，利用该系统可进一步发展高时间分辨的脉冲射线束探测技术。