嵌埋ni颗粒的batio₃/srtio₃薄膜的相变特性

？采用高温x射线原位衍射和变温介电谱对srtio3基底上外延生长的batio3（嵌埋ni颗粒）薄膜进行了相变特性分析。从x射线衍射和介电谱的分析结果得出，batio3的相变温度点转变为弥散的温度区间。在这个弥散的相变温度区间内，由于基底和薄膜之间的失配，以及嵌埋ni颗粒的应力作用，薄膜的介电响应弥散剧烈，并偏离德拜弛豫。分析cole-cole图获知，batio3薄膜在四方相转变为立方相的相变过程中同时存在几种极化机制，在高温状态下介电损耗随温度增大而增大。降温过程中，薄膜没有立即恢复四方相，可能是基底和ni颗粒的共同作用影响了相变弛豫。