采用epr谱和tem对ysz单晶辐照损伤的研究

？利用电子顺磁共振(epr)谱和透射电子显微镜(tem)研究了ysz单晶的辐照效应。200kev的xe和400kev的cs离子注入［111］取向的ysz单晶中，注量均为5×1016cm-2。epr结果表明辐照产生了共振吸收位置g‖=1.989和g⊥=1.869、对称轴为［111］的六配位zr3+顺磁缺陷。cs辐照产生了比xe离子辐照多约150倍的六配位zr3+顺磁缺陷。两种样品的剖面电子显微分析表明没有发现非晶化转变，但是cs离子辐照的样品在损伤集中区域产生了密度较高的缺陷。因此，epr谱和电子显微观察均说明在相同离位损伤(约160dpa)的情况下，cs离子辐照比xe离子辐照产生了更多的缺陷。造成这一现象的原因是cs离子是化学活性的而xe离子却是惰性的。