回旋速调管加载损耗介质群聚腔的研究

？用模式场匹配理论建立了散射矩阵，数值模拟并分析了加载损耗介质层对群聚腔q值、谐振特性以及群聚腔两端漂移段半径的大小对谐振特性的影响。研究表明：加载损耗介质在高频率下使群聚腔主要寄生模式eh212和eh311得到极大的抑制，对工作模式h01模更有利；衰减常数随损耗层厚度的增加而迅速增加，q值随介质厚度的增加迅速减小,因此在设计腔体时必须严格控制损耗材料厚度。最后为正在研制的回旋速调管设计了满足要求的低q群聚腔，该腔冷测实验结果与计算结果基本一致。