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物理 2010
高分辨率电子能量损失谱在材料科学中的应用, PP. 0-0 Keywords: 高分辨电子能量损失谱,近限精细结构,半导体带隙 Abstract: ?简要介绍了feititan80—300stem扫描透射电镜中装配的wien-filter型能量单色器(monochromator).文章特别指出,装配有能量单色器的feititan80—300stem扫描透射电镜,可以直接给出高能量分辨率(~0.1ev)的电子能量损失谱.利用高分辨电子能量损失谱,在高能损失区,对于k或l能级自然宽度(naturalwidthofenergylevel)小于0.5ev的元素,可以获得更细致的的近限精细结构(energy-lossnear-edgestructure),更有利于解析其电子结构;在低能损失区,可以用于精确地确定半导体材料的带隙(bandgap)以及p型掺杂引起的带隙能的变化.
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