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ISSN: 2333-9721
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物理  1994 

x射线三晶衍射及其应用

, PP. 0-0

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Abstract:

?x射线三晶衍射由于同时采用了单色器和分析器,因而能区分样品中由完美晶体部分对x射线的动力学衍射和由缺陷部分引起的运动学散射,还可把晶体中晶格常数的变化和晶格取向缺陷区别开,并可测定倒易点附近x射线散射强度的二维分布图。近来,x射线三晶衍射技术广泛应用于研究晶体的表面和界面粗糙度、表面损伤、晶体内的微缺陷以及精确确定外延膜的结构参数等。此外,还简要地介绍了x射线三晶衍射的技术、原理和应用。

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