用x射线荧光光谱薄试样法测定磁泡薄膜的原子比值

？磁泡存贮器作为一种新的计算机存贮器在国内外受到广泛的重视．对于磁泡材料组份的测定国外多采用电子探针方法［１，２］．这种材料是用外延法生长在乱镓石榴石基片上的含有多元稀上的薄层．我们对中国科学院金属研究所王桢枢等同志的纸片薄样法进行了改进，提高了灵敏度，使其能用于微量薄层样品的分析．并用此法对磁泡薄膜的原子比值进行了测定，其灵敏度、精密度和准确度都能得到较满意的结果，且分析速度较快，便于磁泡材?...