晶体结构的x射线粉末衍射法测定──纪念x射线发现100周年

？晶体结构是了解固体材料性质的重要基础。广泛应用的测定晶体结构的有效方法是ｘ射线单晶结构分析。然而许多固态材料不可能获得满足单晶结构分析所需要的尺寸和质量，在这种情况下，实质上有关结构的信息是来自粉末衍射数据。文章综述了根据粉末衍射数据，应用单晶结构分析方法测定晶体结构的进展。同时着重讨论了粉末衍射重叠峰的分离方法。