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ISSN: 2333-9721
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物理  2007 

氧化物薄膜研制中的电子能谱技术

, PP. 0-0

Keywords: 氧化物薄膜,薄膜材料,电子能谱,俄歇电子能谱,电子能量损失谱

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Abstract:

?随着科学技术的不断发展,人们正在寻求更新的实用材料.金属氧化物,包括金属氧化物薄膜的各种实用材料,在工业界、信息产业界和能源开发等方面的应用前景,早已引起国内外学者的极大关注.例如,由于氧化物具有各种特殊的介电和光学性质,研究和开发基于氧化物薄膜的气敏材料非常热门.如何制备出有实用价值的各种薄膜材料,是科学家们一直关心和深入研究的课题.电子能谱技术在各种材料的基础研究和实际应用中起着重要的作用.本文以有序金属氧化物薄膜研制为例,简要评述了电子能谱技术(包括x射线光电子能谱(xps),紫外光电子能谱(ups),俄歇电子能谱(aes)和高分辨电子能量损失谱(hreels)),以及低能电子衍射(leed)等技术在氧化物薄膜材料制备和表征中的应用.

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