芯片测试环节质量重入随机系统建模与性能分析

？芯片测试系统中,由于检测设备的不稳定性、产品价值昂贵等原因,产品检测过程中出现质量问题后经过一定调整重新进入检测,会形成质量重入问题.该类质量问题与系统的随机特性结合,使得系统的产出,周期等与系统参数呈现出复杂的非线性关系特性.本研究结合某芯片测试企业的实际问题,采用马尔科夫方法构建了模型,并获得系统的性能指标与参数之间的数值量化关系.阐述了方法的应用过程,进行了系统的性能评估和改善,为实际系统提出了质量管理、缓存设计、周期控制的相关建议.