黄瓜枯萎病抗性基因的连锁分子标记

黄瓜枯萎病是危害我国黄瓜的主要病害。本实验以黄瓜抗枯萎病亲本WIS2757和感枯萎病亲本津研2号及其F2代分离群体为试材,采用分离群体分组分析法(BSA)进行了与黄瓜抗枯萎病基因连锁的分子标记研究。AFLP分析表明:引物对P15M5扩增出的特异DNA片段P15M5-310与WIS2757黄瓜枯萎病抗性基因连锁,遗传距离为7cM。